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Modèles de fiabilité

Les lois de probabilités de défaillances des événements élémentaires sont décrites ci-après avec leurs paramètres de fiabilité.

Paramètres généraux:

  • γ : Probabilité à la sollicitation
  • λ : Taux de défaillance
  • μ : Taux de réparation (et son inverse le temps de réparation, MTTR)
  • t : Temps de mission

La loi « Constante »

La loi « Constante » correspond aux éléments dont la probabilité de défaillance est constante et s'exprime par :

La loi « Exponentielle »

La loi « Exponentielle » correspond aux éléments non réparables, la probabilité de défaillance s'exprime par la formule :

La loi « GLM »

La loi « GLM » correspond aux éléments réparables, la probabilité de défaillance s’exprime par :

La loi « Test périodique simple »

Cette loi permet de représenter un composant qui tombe en panne selon une loi de distribution exponentielle et dont on constate la panne lors d'un test périodique. La réparation s'effectue ensuite de façon instantanée.

  • τ : Intervalle entre 2 tests consécutifs
  • θ : date du premier test

La loi « Test périodique avancé »

Cette loi est la même que celle du test périodique simple à la différence qu’elle prend en compte la réparabilité du composant par le biais du paramètre μ.

  • τ : Intervalle entre 2 tests consécutifs
  • θ : date du premier test

La loi « Réparable (TT) »

La loi « Réparable (TT) » correspond aux éléments réparables, la probabilité de défaillance à l'instant t s’exprime par :

La loi « Weibull »

La loi « Weibull » correspond aux composants non réparable et sans refus de démarrage.

  • α : le paramètre d'échelle ;
  • β : le paramètre de forme ;

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